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发表于 2024-11-24 12:26:23 | 显示全部楼层 |阅读模式

SiC碳化硅MOSFET栅氧可靠性-碳化硅功率器件可靠性最短板-长期工作可靠性薄弱点考核.pd.pdf (4.34 MB, 下载次数: 7)

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